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  • LJD-C介電常數(shù)介質損耗測量儀
    LJD-C介電常數(shù)介質損耗測量儀

    介電常數(shù)介質損耗測量儀采用了多項先進技術: 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-C訪問量:1217
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  • LJD-C介電常數(shù)及介質損耗測定機
    LJD-C介電常數(shù)及介質損耗測定機

    介電常數(shù)及介質損耗測定機采用了多項先進技術: 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-C訪問量:1162
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  • LJD-C介電常數(shù)及介質損耗試驗裝置
    LJD-C介電常數(shù)及介質損耗試驗裝置

    介電常數(shù)及介質損耗試驗裝置作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進技術: 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-C訪問量:1140
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  • LJD-C介電常數(shù)及介質損耗試驗儀
    LJD-C介電常數(shù)及介質損耗試驗儀

    介電常數(shù)及介質損耗試驗儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進技術: 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-C訪問量:1204
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  • LJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試裝置
    LJD-C介電常數(shù)及介質損耗測試裝置

    介電常數(shù)及介質損耗測試裝置作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項先進技術: 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧,數(shù)碼化電容調諧。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-C訪問量:1118
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  • LJD-B介電常數(shù)及介質損耗測量儀
    LJD-B介電常數(shù)及介質損耗測量儀

    介電常數(shù)及介質損耗測量儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-B訪問量:1187
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  • LJD-B介電常數(shù)及介質損耗測定儀
    LJD-B介電常數(shù)及介質損耗測定儀

    介電常數(shù)及介質損耗測定儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-B訪問量:1197
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  • LJD-B介電常數(shù)及介質損耗測試儀
    LJD-B介電常數(shù)及介質損耗測試儀

    介電常數(shù)及介質損耗測試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能。在介質損耗測試時,當材料的損耗較大時,介質損耗值會出現(xiàn)錯誤。)但又無法得到升級完善,產(chǎn)品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。

    更新日期:2024-12-18型號:LJD-B訪問量:1288
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